低阻抗率計 （手提式）

產品型號： MCP-T370

所屬分類：阻抗率計

產品時間：2023-10-27

簡要描述：低阻抗率計 （手提式）
商品名稱： 低阻抗率計 MCP-T370型 （手提式） Loresta-AX 特色： 維持安定之高質量，依據世界之四探針理論之高精度之阻抗率計 操作簡單，現場使用攜帶型方便，用于生產技術、質量管理 測定范圍： 10-2～106Ω 資料輸出： USB Memory 體積： 約 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g 標準配備 ASP探頭 MCP

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低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式)

• 商品名稱： 低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式) Loresta-AX 特色： 維持安定之高質量，依據世界之四探針理論之高精度之阻抗率計 操作簡單，現場使用攜帶型方便，用于生產技術、質量管理 測定范圍： 10-2～106Ω 資料輸出： USB Memory 體積： 約 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g 標準配備 ASP探頭 MCP-TPO3P《四探針探頭》 利用價值廣泛標準探頭JIS K7194對應， Pin間 5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm MCP-TA06 充電器 選購品 ESP探頭 MCP-TPO8P《四探針探頭》 不均一樣品用 Pin間 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，壓力 240g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm PSP探頭 MCP-TPO6P《四探針探頭》 小樣品或薄膜用 Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支， 尺寸 Ø 10-20× L112mm QPP探頭 MCP-TPQPP《四探針探頭》 微小樣品用 Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支， 尺寸 Ø 10-20× L112mm NSCP探頭 MCP-NSCP《四探針探頭, 特殊用探頭》 Silicone wafer用 Pin間 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，壓力 250g/支 BSP探頭 MCP-TPO5P《四探針探頭, 特殊用探頭》 大樣品用 Pin間 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支 TFP探頭 MCP-TFP《四探針探頭, 特殊用探頭》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin間 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，壓力 50g/支 AP探頭 MCP-TPAP《二探針探頭》 標準樣式 Pin間 10mm，Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支 BP探頭 MCP-TPBP《二探針探頭》 大樣品用 Pin尖 Ø 2×2支，壓力 240g/支 MCP-TRF1探頭檢驗片 ASP, ESP探頭用 (探頭檢驗片于測定前檢查之) MCP-TRPS 探頭檢驗片 PSP探頭用 (探頭檢驗片于測定前檢查之) MCP-TRTF 探頭檢驗片 TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗片于測定前檢查之)